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ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪
ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪


简要说明

ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端测量频率范围涵盖20Hz~2MHz,最小分辨率1mHz,基本测量精度可达0.05%

主要用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压(V)下的电容量(C)ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪除了可以连接电脑上位机软件扫描分析功能外,还提供在仪器大屏液晶显示器上直接显示C-V扫描曲线分析功能。这样客户不再需要为每台仪器配置一台电脑。这种方式既保证了测试效率,又降低了测试成本、还方便客户在生产线上使用。还可以把仪器屏幕上显示图形和测试数据直接拷贝到U盘。

本仪器还可以测试MOS管的输入电容Ciss,输入电阻Rg等参数。同时提供了内置±10VDC源方便客户测3端管子。

 

订购信息

●ZX38-CV20Hz-1MHz 半导体C-V特性测试仪

●ZX38A-CV20Hz-2MHz 半导体C-V特性测试仪

 

性能特点

自动平衡技术电桥,4端对开尔文测试端

提供内部直流偏压-40V+40V

简体中文、英文操作语言

绘图扫描、开路、短路、负载校正等等功能

进行测试数据、测试条件保存(U盘或内部)

绘图扫描图像直接拷屏到U盘功能

加强的测试端保护功能

●USBGPIB(选件)RS232LAN(选件)等上位机连接接口

 


自动平衡电桥技术

ZX38A使用的自动平衡电桥测试原理,把以往简易的测量运放改进成:Lpot检零电路,090数字检相及调制解调电路,Lcur高频驱动电路等等组成的矢量负反馈网络。从而保证了测量电路的虚地端更接近理想。自动平衡电桥技术能够更好的抵消叠加偏压对电容测量造成的误差。

 

主要测量页面

 


 


 


 

配备多种接口


 


基本测量精度


 

规格参数

参数

CLXBRGDQESRRpθ|Z||Y|

测量电平

0.005-20Vrms(<=1MHz)

0.005-15Vrms(>1MHz)

基本准确度

0.05%, 具体见公司相关企业标准

测量速度

快速:100/秒、中速20/ 秒、慢速6/

 

 

 

 

 

 

示 范 围

|Z|,R,X

0.01 mΩ99.9999MΩ

|Y|GB

0.00001μS99.9999S

C

0.00001pF9.99999F

D

0.000019.99999

L

0.00001μH99999.9H

Q

0.0199999.9

θ(RAD)

-3.141593.14159

θ(DEG)

-179.999 °179.999°

Δ%

-999.999%999.999%

内部直流

偏置电压 

可选配±100mA-40V+40V

量程方式

自动、保持

触发方式

内部、手动、自动、外部、总线

校准功能

开路/短路、频清零、点频清零

等效电路

串联、并联

比较器

十档分选,BIN0BIN9NGAUX

PASSHILOW(PASS/FAILLED显示)

接口

RS232CUsbHostUSB DeviceHandlerGPIB(选件)

温度湿度

040,相对湿度≤75%

电源要求

100120 Vac198242 Vac

4664 Hz,功率大于75 VA

体积(WxHxD)

400mmx132mmx410mm

重量(净重)

8.5Kg

 

主要附件

ZX28Y05


ZX85Y47(选购件)


ZX28Y10


ZX28Y11A

 

ZX26009B(选配)


ZX28Y08(选配)


 

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