电容测试仪

ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪 ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪

产品介绍：

简要说明

ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪：使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~2MHz，最小分辨率1mHz，基本测量精度可达0.05%。

主要用于测试半导体器件PN结的势垒电容在不同偏压(V)下的电容量(C)。ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪除了可以连接电脑上位机软件扫描分析功能外，还提供在仪器大屏液晶显示器上直接显示C-V扫描曲线分析功能。这样客户不再需要为每台仪器配置一台电脑。这种方式既保证了测试效率，又降低了测试成本、还方便客户在生产线上使用。还可以把仪器屏幕上显示图形和测试数据直接拷贝到U盘。

本仪器还可以测试MOS管的输入电容Ciss，输入电阻Rg等参数。同时提供了内置±10VDC电压源方便客户测试3端管子。


订购信息

●ZX38-CV：20Hz-1MHz 半导体C-V特性测试仪

●ZX38A-CV：20Hz-2MHz 半导体C-V特性测试仪

 性能特点

●自动平衡技术电桥，4端对开尔文测试端

●提供内部直流偏压-40V～+40V

●简体中文、英文操作语言

●绘图扫描、开路、短路、负载校正等等功能

●进行测试数据、测试条件保存（U盘或内部）

●绘图扫描图像直接拷屏到U盘功能

●加强的测试端保护功能

●USB、GPIB(选件)、RS232、LAN（选件）等上位机连接接口


 自动平衡电桥技术

ZX38A使用的自动平衡电桥测试原理，把以往简易的测量运放改进成：Lpot检零电路，0度90度数字检相及调制解调电路，Lcur高频驱动电路等等组成的矢量负反馈网络。从而保证了测量电路的虚地端更接近理想。自动平衡电桥技术能够更好的抵消叠加偏压对电容测量造成的误差。


主要测量页面





配备多种接口


规格参数：

规格参数

测量参数

C、L、X、B、R、G、D、Q、ESR、Rp、θ、|Z|、|Y|

测量电平

0.005-20Vrms(<=1MHz)

0.005-15Vrms(>1MHz)

基本准确度

0.05%, 具体见公司相关企业标准

测量速度

快速:100次/秒、中速20次/ 秒、慢速6次/秒

 

 

 

 

 

 

显示范围

|Z|,R,X

0.01 mΩ～99.9999MΩ

|Y|，G， B

0.00001μS～99.9999S

C

0.00001pF～9.99999F

D

0.00001～9.99999

L

0.00001μH～99999.9H

Q

0.01～99999.9

θ(RAD)

-3.14159～3.14159

θ(DEG)

-179.999 °～179.999°

Δ%

-999.999%～999.999%

内部直流

偏置电压 

可选配±100mA、-40V～+40V

量程方式

自动、保持

触发方式

内部、手动、自动、外部、总线

校准功能

开路/短路、扫频清零、点频清零

等效电路

串联、并联

比较器

十档分选，BIN0～BIN9、NG、AUX

PASS、HI、LOW(PASS/FAILLED显示)

接口

RS232C、UsbHost、USB Device、Handler、GPIB（选件）

温度湿度

0℃～40℃，相对湿度≤75%

电源要求

100～120 Vac或198～242 Vac

46～64 Hz，功率大于75 VA

体积(WxHxD)

400mmx132mmx410mm

重量（净重）

8.5Kg

 


主要附件：